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最新消息| 國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000 | 2023-09-01 |
| 文章来源：由「百度新聞」平台非商業用途取用"https://www.elecfans.com/d/2214866.html" 在大規模成像場景中，常規掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應用需求。例如，在芯片結構成像應用中，需要在幾周內完成數百平方毫米區域的連續拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經元進行高分辨成像。對于此類場景，常規掃描電鏡效率嚴重不足，為解決客戶痛點，國儀量子于近日推出一款專為大規模成像而生的新產品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000。高速掃描電子顯微鏡HEM6000高速自動化HEM6000HEM6000是一款可實現跨尺度大規模樣品成像的高速掃描電子顯微鏡。采用高亮度大束流電子槍、高速電子偏轉系統、高壓樣品臺減速、動態光軸、浸沒式電磁復合物鏡等技術，實現了高速圖像采集和成像，同時保證了納米級分辨率。面向應用場景的自動化操作流程設計，使得大面積的高分辨率圖像采集工作更高效、更智能。成像速度可達常規場發射掃描電鏡的5倍以上。可廣泛應用于半導體工業、生命科學、材料科學、地質科學等領域。圖像采集速度：10nspixel，2*100Mpixels加速電壓：100V~6kV(減速模式)；6kV~30kV(非減速模式)分辨率：1.3nm@3kV，SE；2.2nm@1kV，SE視場大小：最大視場1*1mm2，高分辨微畸變視場32*32um2樣品臺精度：重復定位精度：X±0.6um；Y±0.3um產品優勢HEM600001高速自動化全自動上下樣流程和采圖作業，綜合成像速度優于常規場發射掃描電鏡的5倍02大場低畸變跟隨掃描場動態變化的光軸，實現了更低的場邊緣畸變03低壓高分辨樣品臺減速技術，實現低落點電壓，同時保證高分辨率應用案例HEM6000聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。舉報投訴 關鍵字標籤：sartorius磅秤訂購 |
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